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XDL 系列 X 射線熒光測厚儀信息

  • 發(fā)布日期:2025-08-05      瀏覽次數(shù):150
    • 德國菲希爾的 XDL 系列 X 射線熒光測厚儀,以其先進(jìn)技術(shù)和可靠性能,成為眾多行業(yè)質(zhì)量檢測的得力助手。XDL 系列中的 XDL 240,在鍍層厚度測量及材料分析方面表現(xiàn)優(yōu)。

      XDL 240 運(yùn)用 X 射線熒光光譜法進(jìn)行無損檢測,其自動聚焦功能可確保樣品完整性不受影響,同時(shí)保障測量的準(zhǔn)確性。在硬件性能上,它配備了移動范圍≥95x150mm 的動 X/Y 平臺,可用工作臺面≥420x450mm,能輕松放置多樣品并進(jìn)行測量,且當(dāng)保護(hù)門開啟時(shí),工作臺會自動移到便于放置樣品的位置,極大方便了操作。電動 Z 軸支持手動 / 自動聚焦,移動范圍≥140mm,可適配不同高度的樣品,讓各類樣品都能處于最佳測量位置。

      該儀器采用測量距離補(bǔ)償法(DCM)這一創(chuàng)新技術(shù),能夠?qū)崿F(xiàn) 80mm 深度的腔體樣品遠(yuǎn)距離對焦測量,有效解決了深腔樣品測量這一行業(yè)難題。其可變高壓支持 30KV、40KV、50KV 三檔調(diào)節(jié),用戶可依據(jù)不同的測試樣品和場景,靈活選擇合適的高壓,進(jìn)而獲得精準(zhǔn)的測量結(jié)果。標(biāo)配的 φ0.3 的圓形準(zhǔn)直器可提升測量精度,此外,還有 φ0.1mm、φ0.2mm 及長方形 0.3mmx0.05mm 等多種準(zhǔn)直器可供選擇,滿足不同測量需求。X 射線探測器采用比例接收器,能穩(wěn)定接收信號,保證測量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和可靠性。內(nèi)置的高分辨率 CCD 攝像頭,放大倍數(shù) 40 - 160 倍,便于操作人員觀察定位樣品。沿初級 X 射線光束方向可清晰觀察測量位置,配備的手動聚焦、十字線(帶有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度和測量點(diǎn)尺寸)以及可調(diào)節(jié)亮度的 LED 照明,還有用于準(zhǔn)確定位樣品的激光光點(diǎn),都使得操作人員能夠快速、準(zhǔn)確地放置和定位樣品,大幅提高了檢測效率 。


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